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校准和测试RTD传感器

校准

温度变送器的校准通常不考虑温度传感器的性能。对于许多过程来说,这是一种可以接受的做法,尽管传感器通常比变送器产生更多的错误。

用干块校准器进行RTD校准和测试

这种做法对于关键的过程测量或那些需要更高程度的置信度或准确性的过程测量来说是有问题的。测试变送器及其相应的过程传感器一起提供了一个更完整的测试。如果使用适当的测试设备,通过将设备与发射机电子器件匹配,可以将传感器的误差贡献降至最低。

如何进行测试

使用排水井校准器与一个爱游戏平台是正规的吗Fluke 754记录过程校准器自动测试带有传感器的发射器:

  1. 拆卸过程测量传感器并安装到干井温度校准器中。
  2. 将754的mA测量插孔连接到变送器,并在754和干井之间连接干井通信电缆。
  3. 按HART键查询变送器配置信息。
  4. 根据实际情况,在754上启用“Loop Power”。
  5. 再次按HART并配置校准器进行测试;选择“测量mA,源干井。”
  6. 选择“As-Found”来配置测试文档。一定要将延迟时间设置得足够长,以允许干井改变温度并稳定下来。
  7. 使用自动测试(Auto-Test)记录已发现测试,在测试延迟时间内记录干井的沉降时间,或者在观察稳定的测试温度时手动记录。
  8. 在As-Found测试后,选择“调整”,并在提示使用干井调整发射机输入时选择“是”。应用的温度和调整将调整发射机输入块,通过调整发射机和传感器的输出一起输出正确的测量。
  9. 使用传感器调整输入后,使用“输出微调”调整发射机mA输出。
  10. 调整完成后,记录变送器左As-Left和输入误差的后置调整。对变送器的传感器和输出误差进行公称化,从而提高温度测量性能。